EMI測試(shi)
EM5030 是一款主(zhu)要用于查找(zhao)幹擾源,判定(ding)幹擾産生原(yuán)因的高性🈲價(jià)比👨❤️👨近場探頭(tóu)。可用來檢測(ce)器件表面的(de)磁場方向以(yǐ)及強度;檢測(ce)磁場耦合的(de)通道,從而調(diao)整💰連接器位(wei)置;檢測模塊(kuài)附近的磁場(chang)環🐉境。爲了降(jiang)低🌂幹擾,尋找(zhao)到真正的幹(gan)擾源或🌏者是(shi)其傳播的途(tú)徑是非常有(you)必🐕要的,通過(guo)近場探頭測(ce)量可以很方(fang)便🈲地實現定(dìng)位🈚功能。通過(guo)配合本公司(si)的EM5020前置放大(dà)器可以提高(gao)系統測試靈(líng)敏度。大大的(de)減少産品的(de)研🈲51爆料网🔞每日爆料黑料❌發周期,減(jian)少往返實🔞驗(yan)室的時間和(he)金♋錢✌️,減少不(bú)必要的錯誤(wu)測試。 EM5030近場探(tan)頭就是解決(jue)問題的最好(hǎo)利🤟器!
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型(xing)号 |
說明(míng) |
特性 |
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磁場近場探(tàn)頭,可檢查10cm範(fan)圍内的磁場(chang)。
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磁場近場探(tan)頭,可檢查3cm範(fàn)圍内的磁場(chǎng)。
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磁場近場探(tan)頭,主要用于(yú)線纜電磁洩(xiè)漏測試。
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磁場(chǎng)近場探頭,可(kě)檢測垂直方(fang)向發射的電(diàn)磁場 。
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